【技术特点】-- 纳优科技 NDA 200 X荧光光谱仪

技术指标

元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素

测量时间：

        对聚合物材料，典型测量时间为200秒

        对铜基体材料，典型测量时间为400秒

检出限指标（LOD）：

        对聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg

        对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

精密度指标，以连续测量7次的标准偏差σ表征：

    对聚合物（塑胶）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg

        对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

准确度指标，以系统偏差δ进行表征

        对聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg; δ（TCr）≤100mg/Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg

        对铜基体材料：δ（Pb）≤150mg/Kg

【技术特点对用户带来的好处】-- 纳优科技 NDA 200 X荧光光谱仪

【典型应用举例】-- 纳优科技 NDA 200 X荧光光谱仪