专为4D STEM设计的混合像素探测器 DECTRIS ARINA

       DECTRIS ARINA®可伸缩电子计数探测器是专门为4D STEM应用开发的。它采用了一个全新的专有集成电路设计（ASIC），结合高达每秒12万帧的理想速度、高动态范围和无噪音的读出能力，从而使高质量的数据采集达到传统STEM探测的原生速度。得益于DECTRIS的混合像素技术，ARINA可以采用不同的传感器材料，并能在30-300 KeV的整个能量范围内都有理想表现。它拥有结构紧凑的设计和一个20 mm乘20 mm或192像素乘192像素的有效区域。 DECTRIS ARINA 适合于停留时间低于10 μs的广泛 4D STEM应用，包括从晶相 和取向分布分析到层叠成像技术，以及使用虚拟探测器进行灵活的 STEM 图像重建。

技术规格

DECTRIS ARINA® 可伸缩电子计数检测器专为 4D STEM 应用而开发。它采用新的ASIC，将高达每秒120,000帧的极速与高动态范围和无噪声读数相结合，从而能够以传统STEM测量的原始速度进行高质量的数据采集。得益于DECTRIS的混合像素技术，ARINA可以使用不同的传感器材料，并在30-300 keV的整个能量范围内发挥最佳性能。

DECTRIS ARINA 适用于停留时间低于 4 μs 的广泛 10D STEM 应用，从晶相和取向映射到层析，包括使用虚拟探测器进行灵活的 STEM 图像重建。

• 快速而灵敏：即使在 120 kHz 的帧速率下，DECTRIS ARINA 也可以计算每个电子，最高可达 10 pA/像素。

• 灵活：DECTRIS ARINA 采用硅 （Si） 或高阻传感器材料，涵盖从 30 到 300 keV 的广泛能量范围。

• 赋能：我们由志同道合的科学家和工程师组成的团队随时为您提供帮助，帮助您充分利用您的设置。