主要技术特色：
提供各种不同几何结构及分割探头选择
同时支持BF/LAADF/MAADF/HAADF/DPC多种成像
支持电压范围：5keV~300keV
配备集成16通道前置放大器，用于读取探测器的每个通道，且能够保证都具有很好质量
探头感度高，成像具备非常低噪音
快速响应时间<30ns
前置放大器增益为10e5 V/A
兼容各种类型的PNDetector公司STEM探头
适配各种型号透射电镜/扫描电镜
配备集成16通道前置放大器，用于读取探测器的每个通道，且能够保证都具有很好质量
成像具备非常低噪音
快速响应时间<30ns
前置放大器增益为10e5 V/A
兼容各种类型的PNDetector公司STEM探头
适配各种型号透射电镜/扫描电镜
同时支持BF/LAADF/MAADF/HAADF/DPC多种成像
产品应用
应用结果：
图1：含嵌入SiC纳米颗粒（10-200 nm）的镁薄片的FIB薄片，平均原子序数差异非常小（Mg：Z=12，MgO：Z=10， SiC：Z=10），利用PNDetector高级多功能STEM探头可以同时获取BF/LAADF/MAADF/HAADF图像
图2：35nm薄钴金属样品的DPC成像结果，磁畴结构的方向和强度用不同颜色表示
用于扫描透射电子显微镜 （STEM） 的电子探测器 SEM 和 TEM
扫描透射电子显微镜 （STEM） 是一种流行的技术，人们越来越感兴趣，它被应用于 SEM 和 TEM 中的各种标本。电子以低于入射光束会聚角（明场，BF）的角度和高（环形暗场，ADF）或非常高的散射角（高角度环形暗场，HAADF）通过样品后被检测到。
PNDetector 的环形 STEM 探测器基于厚度为 450 μm 的完全耗尽的 p-i-n 二极管。这样可以将信号电容降至仅几pF的值，这对于实现高检测器速度和低噪声水平是必不可少的。
主要特点
• 优化的几何形状，包含不同的环结构和分段
• 实现高质量的差分相衬 （DPC） 测量
• 在 5 keV – 300 keV 范围内具有全灵敏度
• 提供包含中心孔和明场的两种版本
• 高信号强度和最佳信噪比
标准 STEM 探测器
PNDetector的标准STEM探测器具有不同的芯片几何形状，均采用铝制外壳。
高级 STEM 探测器
最新的STEM检测器集成了16通道前置放大器。它与所有类型的PNDetector的STEM芯片兼容。
标准 STEM 探测器
使用PNDetector的标准STEM检测器获得最佳的差分相差
它们具有不同的芯片段和环形结构。自定义分段也会根据客户的要求应用。这些探测器可用于 TEM 和 SEM。
PNDetector的STEM芯片类型概述：
选择适合您需求的几何形状：
STD-STEM-10-4-2-BF05 检测器
10 mm 外径，9 个通道和 2 个环，0.5 mm 光亮场 （BF） 电池
STD-STEM-22-4-3-BF15 检测器
22 mm 外径，13 个通道和 3 个环，1.5 mm 光亮场 （BF） 电池
STD-STEM-22-4-3-CH05 检测器
外径 22mm，13 个通道和 3 个环，中心孔 （CH） 直径 0.5 mm
STD-STEM-22-4-3-CH20 检测器
外径 22 mm，13 通道和 3 环，中心孔 （CH） 直径 2 mm
高级 STEM 探测器
超越极限的一步：最新的 16 通道 PNDetector 的高级 STEM 检测器
使用新的 16 通道 STEM 前置放大器扩展您的工作流程，该前置放大器已专业集成到我们的标准 STEM 探测器外壳中，并将其更改为超快速的高级 STEM 探测器模块。您可以从每个通道获得更快的扫描速率，并实现更好的图像采集。无需通过长电缆将 SEM 室中的 STEM 探测器连接到室外的电子设备。借助PNDetector的高级STEM探测器，您可以在SEM室内实现所需的一切，并获得更高的通量和信噪比。
主要特点
低噪音
快速响应时间< 30ns
典型前置放大器增益：105V/A
兼容所有 PNDetector 的 STEM 芯片
真空兼容
兼容PND伸缩臂系统
选择适合您需求的几何形状：
ADV-STEM-10-4-2-BF05检测器
10 mm 外径，9 个通道和 2 个环，0.5 mm 光亮场 （BF） 电池
ADV-STEM-22-4-3-BF15检测器
22 mm 外径，13 通道和 3 个环，1.5 mm 明场 （BF） 直径
ADV-STEM-22-4-3-CH05 检测器
22 mm 外径，13 通道 3 环，0.5 mm 中心孔 （CH） 直径
ADV-STEM-22-4-3-CH20 检测器
外径 22 mm，13 通道和 3 环，中心孔 （CH） 直径 2 mm
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除厂家/中国总经销商外，我们找不到
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