QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器,是分析 SEM 中纳米材料的理想化解决方案。原因如下:
提供 1.5 nm 的空间分辨率
在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试
在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案
全自动内置 ARGUS 成像系统
1.5纳米有效的空间分辨率:独特的同轴 TKD 提供最佳的样品-探测器几何构型,从而实现无与伦比的性能
2 nA 测试所需的最大电流:同轴 TKD 可实现低探头电流测试,且不影响测试速度和数据质量
125,000 Pps,超快获取 FSE、BSE 和 STEM 图像,无与伦比的ARGUS成像系统可在几秒钟内实现高对比度和低噪声成像
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