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天士立 大功率可控硅静态动态参数综合测试系统 SCR-DC8000

tel: 400-6699-117 1000

天士立半导体专用检测仪器设备, 测试可控硅模块动态、静态综合参数......

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品牌:TIANSHILI

名称:大功率可控硅静态动态参数综合测试系统

型号:SCR-DC8000

用途:测试可控硅模块动态、静态综合参数


测试项目:

  门极触发:VGT、IGT

  维持电流:IH、IL

  阻断参数:VD、VR、ID、IR

  压降参数:VTM、ITM

  电压上升率:dv/dt

  电流变化率:di/dt

  关断时间:Tq

  恢复电荷:Qr、Irr、Trr



厂家资料

地址:陕西省西安市高新区高新路8号丽华科技大厦21层210151号

电话:400-6699-117 转 1000

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