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Tisch 安德森八级颗粒物撞击采样器

tel: 400-6699-117 1000

TischTSP/颗粒物采样器, 8级撞击采样器是一个多级,多孔的阶式撞击采样器,用于大气中的颗粒物分级采集,分析质量浓度和粒径分布。撞击采样器根据空气动力学原理设计,由8个撞击盘组成,每个撞击盘具有数量和直径经过严格设计的加速喷射小孔。样气流经过每一级撞击盘时,其中较大的颗粒由于惯性作用,直接撞击并停留在撞击盘的表面,而较小的颗粒则随空气流穿过,到达下一级撞击盘。不同空气动力学粒径的气溶胶粒子根据空气动力学原理被分离并采集到各级采样膜上,膜片用于重量和颗粒物成分分析。 8级撞击采样器将微粒撞击采集到不锈钢表面或其它多种过滤膜上,在1CFM(28.3LPM)的流速下,粒径分级范围是10.0微米到0.4微米(空气动力学直径),zei后一级撞击盘收集所有直径小于0.4μm的颗粒。采样介质可以是玻璃纤维、石英、Teflon™、铝箔、不锈钢等,zei常用的滤膜是石英和玻璃纤维滤膜。

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