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BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS1008

tel: 400-6699-117 1000

Batop太赫兹光谱仪, THz-TDS背景知识 基于超短THz脉冲产生与探测技术发展起来的太赫兹时域光谱仪(Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS)技术,是本世纪80年代zei先由AT&T贝尔实验室(AT&T Bell Laboratories)和IBM公司的T.J.Waston研究中心(IBM Thomas J. Watson Research Center)提出的。BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS1008技术属于电磁辐射位相相干探测技术,是通过对THz脉冲不同时刻的电场强度进行位相相关的取样测量,获得THz脉冲电场的时域波形。再对THz时域波形进行傅立叶变换,获得THz脉冲电场频谱和位相信息。因此,THz-TDS可以同时直接探测被研究对象扰动的THz波电场振幅和相位双重信息。

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