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OptoTop® 高精度纳米级三维形貌仪

tel: 400-6699-117 1000

INNOWEP轮廓仪/粗糙度仪, OptoTop® 高精度纳米级三维形貌仪 设备介绍: OptoTop®不仅可以测量材料的表面三维形貌,而且可以测量表面的颗粒度,纳米颗粒大小和粗糙度,以及复杂的表面磨耗性能。OptoTop®可满足研发、磨损分析、失效分析及工艺控制等领域的需求。

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技术资料
 

感应度白光共聚焦
测量范围Z*300µm1mm 2mm
解析度 Z*12nm25nm75nm
侧向解析度1.55µm2µm4µm
测量感应距离11mm12.7mm16.4mm
测量频率30 Hz, 100 Hz, 300 Hz, 1 kHzv
标准XY轴试验范围60 x 60 mm
移动速度0.1 - 10 mm/s
标准样品台大小165 x 165 mm 或定制品


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