技术参数

TRACEiT-MIDI®便携式光学三维形貌仪

基本介绍

TRACEiT-MIDI®便携式光学三维形貌仪包含一个手持式光学测量头，专用便携式数据采集系统，ipod操作控制系统。zei大测量范围可达标准A4纸，精确度可达100um。 同时，专用软件还可用来进一步评估特定区域内材料表面的性能。

设备优点

¤ 便携式设计
¤ zl技术可同时测量三维形貌和视觉效果
¤ 同时3D建模  
¤ 便捷使用
¤ 精度高
¤ 重复性、再现性高
¤ 快速测量
¤ 多参数数据分析：粗糙度，高度，深度等

技术指标

备选设备

COPRA® 扫描计算系统
该系统可以用来计算材料的
☆ 表面结构
☆ 涂层
☆ 印压
☆ 磨耗及磨损
☆ 颗粒度及孔隙度

该扫描计算系统特别设计用来整理及评估磨损结果，亦可用于评估其他各种表面的特性。计算参数包括：
♦ 颗粒度分布（数量、面积、大小及百分比）
♦ 平均值（包含标准偏差）
♦ 孔隙度分布
♦ 灰阶表面形貌影像的高度分析
♦ 方位长度剖面
♦ 磨耗及磨损分析