美国鲁道夫J457折光仪

技术指标： J457  

测量模式：   折光指数 (nD), 糖度 (% Sucrose), 以及 100 以上自定义方法

测量范围:    遮光指数：1.26 – 1.72

糖度Brix：  0 – 100

准确度:   ±0.00002RI，±0.01Brix

重现性：±0.00002

Brix ±0.15

精度：0.00001, Brix 0.01

温控范围：    10°C to 110°C (120℃可选）

温控准确度：       ±0.01°C

环境温度要求：5°C to 40°C

温度修正范围：4°C to 95°C (for sucrose solutions)

样品温度要求范围：    -20°C to 250°C

波长:    589.3nm (其他波长可选)

校准:      单点 双点或多点 符合NIST标准的标准液

耐腐蚀:   测量池哈氏合金材料 (选配)

内存:      8 GB

显示器:   10.4 寸, 800-600 像素, 彩色液晶显示器

用户界面:      触摸屏界面

通讯接口:      3 USB, RS232 and Cat5 Network

尺寸大小:   L: 43.5cm   W: 30.5cm H: 33cm / 10.4 kg

电源: 100 - 240 volts, 50 Hz - 60 Hz