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美国SOC710SW

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SOC高光谱仪/高光谱成像仪, 成像系统   SOC710SW 短波红外成像光谱仪是一款高质量、高性能的仪器,光谱范围为900nm~1700nm。   SOC710SW具有高光谱分辨率 (5 nm), 轻度光谱失真 (<1.5 nm)成像分光计和高灵敏度的InGaAs 探测器 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W),使得SOC710SW可以14-bit同时收集640像素、128个波段的光谱信息。这保证了所有应用里,获得的是zei高质量数据。

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技术参数:

光谱范围:900-1700 nm
光谱分辨率:5 nm
光谱通道:128
光谱失真:<1.5 microns  (smile)
数字光圈:F/2.4
TFOV/IFOV (35MM):10°/0.015625°
分辨率(像素):640x640 (nominal)
LINE RATE:30 Spatial Lines/Second
CUBE RATE:20 Seconds/Cube
数字分辨率:14-bit
三脚架:3/8”-16
计算机接口:USB2.0
扫描:内置
供电:AC/12DV
重量:10 lbs.
尺寸:5”x8”x11”

应用领域:

机械视觉
  电子学和塑胶
  晶片检查
  农业品质
  化学过程控制

农业领域
  精准农业
  土地分类
  水份胁迫
  作物健康
温度记录
  火点监测
  玻璃检测
  金属纯度
军事
  ISR
  边境安全
  导弹跟踪
医学领域
  血糖分析
  X线断层摄影术


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