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美国PSS激光粒度仪、纳米粒度仪, Nicomp 380 激光粒度电位检测仪 采用动态光散射原理检测分析颗粒系的粒度及粒度分布,粒径检测范围0.3nm – 10μm。粒度分析复合采用Gaussian单峰算法和拥有专利技术的NiComp多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势,其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。整机采用模块化设计,可灵活方便地扩展Zeta电位等其它功能。
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