Fritsch公司的A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度仪,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理进行样品颗粒度的检测。zei低检测下限可达0.08µm ,在全球同类产品中都处于领先地位。
大量程激光粒度仪A22的推出,可以完全替代之前Fritsch公司所生产的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪,让您一次使用中可以同时获得过去三台机器的全部功效,使用更加便捷。
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技术参数:
1. 分析方法:激光散射/激光衍射
2. 湿法测量范围:0.08 - 2000 µm
3. 测量时间:5-10 s(单一测量时测量值记录);2 min(整个测量循环)
4. 分析样品回路体积:300-500ml,可调节容积, 可调速径向泵
5. 测量周期:2min
6. 光学排列:反傅立叶设计,活动的测量元件(FRITSCHzl)
7. 测量通道:108
8. 测量结果的重现性:≤0.5%
9. 光源:波长532nm 和940 nm
10. 双激光束设计:绿光,红色激光
11.傅里叶透镜:260mm和560mm焦距(绿光或红外线)
12.软件:采用FRITSCH MaS控制软件,用于控制,记录和评估测量结果
13.完全符合国际ISO13320标准
经销商
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