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诺信达格X射线探伤机、X射线探伤仪, DAGE X-ray 型号:XD7500 XD7600 XD7800等 X光检查在LED,PCB及半导体行业中被认为是zei关键的测试步骤。在当今的封装设计中发现缺陷是非常重要的,因此,X光系统必须在不同的观察角度能够提供高分辨率、高放大倍率和高对比度的图像。 该设备是标准的配置,能够提供实时的高质量数字式的X光图像,图象的分辨率和灰阶都有很大程度的增强,zei大可达70度的倾角观察。 仪器介绍:DAGE X-ray检测系统设计满足PCB和半导体工业的增长需求,用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管(Open Tube)技术,在放大倍数方面远远超过了采用闭管(Closed Tube)技术的X光检测仪达到亚微米级,能满足客户更高精度的需求。
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