DEBEN工业CT, 用于工业CT断层扫描系统的CT5KN型DEBEN拉伸台 Deben公司可以定制一系列用于微米/纳米级的断层扫描系统特别设计的拉伸台。与NIKON, GE 和 Xradia等出品的X射线实时成像检测系统（工业CT）完美配套，可为您的扫描断层应用提供一套完整的拉伸测试等加载方案。 使用带有断层扫描功能的拉伸测试可以为材料和复合材料提供在不同的装载条件下材料性质变化的清晰的目视判读。这种新测试台的设计允许它可以与断层扫描系统配套使用，提供高达5KN的拉伸力和压力，和低至25mN的拉伸力和压力。系统通过全面的微测试拉伸台控制软件控制，这套软件具备很大范围的控制功能而且可以显示负载与拉伸量之间的关系。