天瑞EDX4500 X荧光光谱仪

性能参数

• 产品型号：EDX 4500

• 产品名称：X荧光光谱仪

• 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）

• 元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）

• 同时分析元素：一次性可测几十种元素

• 测量时间：60秒-200秒

• 探测器能量分辨率为：145±5eV

• 管压：5KV-50KV

• 管流：50μA-1000μA

• 测量对象状态：粉末、固体、液体

• 输入电压：AC 110V/220V

• 环境温度：15℃-30℃

• 环境湿度：35%-70%

• 外形尺寸：660mm×510mm×350mm

• 样品腔体积：Φ320mm×100mm

• 重量：65Kg

标准配置

• 高效超薄窗X光管

• SDD硅漂移探测器

• 数字多道技术

• 钢铁行业测试专用配件

• 光路增强系统

• 高信噪比电子线路单元

• 内置高清晰摄像头

• 自动切换型准直器和滤光片

• 自动稳谱装置

• 三重安全保护模式

• 相互独立的基体效应校正模型

• 多变量非线性回归程序

• 整体钢架结构，力度可靠的保证

• 90mm×70mm的液晶屏

• 真空泵