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您现在所在的位置:首页 >> 仪器导购 >> X荧光光谱/XRF(波长色散型)>> HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪

HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪

tel: 400-6699-117 6216

堀场X荧光光谱/XRF(波长色散型), 应对外来物质分析和元素分布检测的解决方案。 运用强大的“快速分析模式”和“细节分析模式”,对外来物质分析,XGT-9000作为单一一台仪器即能迅速完成筛查和形状确认。

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基本参数

元素分析范围

Na - U

zei大样品尺寸[W x D x H]

300 x 250 x 40 mm

样品台尺寸[W x D x H]

100 x 200 x 20 mm

光学图像

整体图像/细节图像

细节光学图像/X射线照射斑

同轴

X射线管

管电压

15 kV, 30 kV, 50 kV

管电流

zei大1 mA

靶材

铑(Rh

X 射线光学系统

毛细管数

3

检测器

荧光X射线检测器

无液氮硅漂移检测器(SDD

透过X射线检测器

配备

扫描

扫描范围

100 x 100 mm (zei大)

像素

4种规格

光学相机(细节相机)

视场区域

2.5 x 2.5 mm

分辨率

< 10 μm

焦距

1 mm- 10 mm

照明

环状、同轴、透过

其它

真空

样品室真空/光学系统真空




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