二次电子图象分辨率:0.7 nm @ 15keV
放大倍数:1~1,000,000 x
电子光学:Triglav™ 高亮度肖特基热场发射枪
样品台:优中心式全自动5轴计算机控制
探测器:标配SE, Restractable BSE, In-Beam, Im-Beam f-BSE
背散射电子图像分辨率:1.6 nm @ 15keV
加速电压:0.2 ~ 30 kV (zei低可至50V)
(离子光学系统)视野范围: 1 mm
(离子光学系统)探针电流: 1 pA ~ 2 μA
(离子光学系统)分辨率: 15 nm @ 30 kV
(离子光学系统)发射源: 氙等离子体源
(电子光学系统)视野范围: 7.0 mm @ WD=30 mm
(电子光学系统)探针电流: ~ 400 nA
(电子光学系统)分辨率: 0.7 nm @ 15 kV
(电子光学系统)发射源:肖特基场发射源
仪器分类: FIB-SEM
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