技术特点
【技术特点】-- 阻抗率自动测定系统
商品名称: | 阻抗率自动测定系统 |
特色: | 测定演算、数据处理,3次元图形输出完全自动化,可应用至基板尺寸650×650mm之长方形、圆形样品,“边缘之影响“被补正,依[MCC方法]测定例 |
测定对象: | ITO玻璃、薄膜,各种金属薄膜、各种导电性薄膜、薄片 |
型号: | ﹢低阻抗率型式:MCP-S620 (650×650mm), MCP-S521 (450×450mm) ﹢高阻抗率型式:MCP-S600 (400×400mm) |
【技术特点对用户带来的好处】-- 阻抗率自动测定系统
【典型应用举例】-- 阻抗率自动测定系统
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