Helios Hydra 双光束FIB-SEM

新的赛默飞 Helios Hydra DualBeam 提供四种不同的离子物种作为主光束，允许根据样品和用例选择使用最佳结果的离子，例如 S/TEM 样品制备和 3D 材料表征。

在气态、氮气、氧气和氧化氮之间切换非常简单,可在 10 分钟内完成,而不会牺牲性能。这种前所未有的灵活性显著扩展了FIB的潜在应用空间,并使研究电一样品相互作用得以优化现有的用例。

好处

独特的能力,在单个仪器中提供四种不同的电子种类,用于材料表征。

在不到十分钟内轻松切换不同子层。

基于 Helios PFIB 双束的能力(市场上性能最高的等离子 FIB-SEM)实现高通量铣削和高分辨率成像。

通过高通量 Xe+ 电束,显著推进 S/TEM 样品制备,用于特定地点、大样品制备以及随后的最终低能量抛光,使用 Ar+ 电束进行最高质量的超低损伤样品。

增强碳基材料的高质量加工,如聚合物、金刚石或具有 O+ 型 o 型 ion 光束的生物样品。

在纳米尺度上实现最快速、最简便的高质量、大面积地下和 3D 信息的获取。

使用最适合材料的型子束提高铣削性能,显著提高样品质量,进一步表征。

　　传统FIB-SEM只能使用一种或两种离子束。现在，随着赛默飞发布了全新的Helios Hydra双光束系统，研究人员现在可以在一个聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)中使用氩、氮、氧和氙四种不同的离子束流。在不牺牲性能的前提下，使用者可在十分钟内快速、轻松地完成不同离子束流的切换。这使得研究人员和工程师可以选择为他们的样品选择最佳结果的离子种类，或者对不同离子与物质的相互作用进行进一步研究。

　　赛默飞材料和结构分析总裁Mike Shafer表示:“现在，科学家能够在一台仪器内轻松选择四种不同的离子，这一产品的发布将整合将扩大和优化应用空间，以研究材料在不同长度尺度下的性能。我们的新Helios Hydra双光束系统提供了科学家们需要的灵活性，以更好地分析他们的样品，改善他们的样品加工结果等。”

　　全新Helios Hydra双光束系统使材料科学研究人员能够发现和设计新材料并分析其性能和结构。它的氧离子束非常适合于碳基材料(如用于电池阳极的石墨)的铣削，它可以帮助研究人员开发更安全、更轻、更高效的能源存储设备。

　　这是第一个商业上四光束FIB-SEM产品，这款仪器允许快速、便捷的实现不同离子束间切换。以前，不同光束的使用需要研究人员在不同的仪器之间传输样品，或者进行冗长而复杂的源交换。例如，独立的专业宽束氩抛光机是目前高性能TEM样品制备流程中常用的仪器。采用Helios Hydra双光束仪，聚焦氩束可以在初始铣削后直接应用于样品上，大大减少了样品的转移和加工时间。

　　凭借10分钟或更短的离子源切换时间，研究人员还可以在一个周期内将所有4种不同的束光应用到他们的样品加工中，以便确定哪种离子最适合他们的样品。这种灵活性扩大了FIB在探索离子-样本交互中的应用潜力。

　　据悉，Helios Hydra生产将于2019年9月开始。

Helios Hydra DualBeam 

Helios Hydra DualBeam 将新的、创新的多型电偶柱与单色热科学 Elstar™ SEM 柱相结合,提供最先进的聚焦电离和电子束性能。直观的软件和前所未有的自动化和易用性允许观察和分析相关的地下体积。

产品型号:

Helios Hydra CX 双光束，具有高度灵活的 110 mm 级

Helios Hydra UX 双光束，具有高度稳定和精确的 150 mm 压电级