【技术特点】-- XRD-XRF集成分析仪

BTX-profiler 为奥林巴斯旗下全新一代XRD与XRF分析仪，它集成了原奥林巴斯旗下便携式XRF及便携式XRD的仪器功能，可以同步实现待测样品的元素信息(Mg- U)的定性定量分析(XRF)及物相晶体结构分析(XRD)，具有多重信息获取、快速、省时、低成本的特点。

BTX-Profiler获得了美国宇航局zl，是基于美国火星探测的目标需要而开发，成功搭载于好奇号火星探测器，实现了火星土壤地质、岩石矿物标本的元素分析及矿物成分分析。

BTX-Profiler内置两个X射线管、两个探测器，独立的结构设计，可以轻松地实现XRF与XRD分析而不互相干扰，保证数据质量的可靠性。

BTX-Profiler具有质量轻、体积小的特点，无需建立专门的实验室，更可实现现场检测分析，提供实时的元素信息、物相结构信息等。

BTX-Profiler包括两套系统：单样品仓系统和旋转多样品仓系统，旋转多样品仓系统可一次性装填20个样品，实现样品的次第分析。

单样品仓系统：体积：49.3 cm × 39.7 cm × 34.4 cm，质量：23.13kg

旋转多样品仓系统：体积：67.4 cm × 39.7 cm × 34.4 cm，质量：32.66 Kg

【技术特点对用户带来的好处】-- XRD-XRF集成分析仪

具有质量轻、体积小的特点，无需建立专门的实验室，更可实现现场检测分析，提供实时的元素信息、物相结构信息等。

【典型应用举例】-- XRD-XRF集成分析仪