布鲁克 D2 PHASER 桌面型X射线衍射仪

Theta / Theta立式测角仪

zei大可用角度范围 (取决于检测器)：-3~160 ° 2Theta;

准确性 ：±0.02°，在整个测量范围内

峰宽：<0.05°

校准：不需要，工厂对齐

X射线的波长：铬/钴/铜，标准陶瓷密封管

X射线产生：30kV/10mA

探测器：闪烁计数器，1维LYNXEYE

外观尺寸：61×60×70厘米(高×宽×长)

重量：95千克

电源：90 - 250 V

技术参数：

Theta / Theta立式测角仪
61 x 60 x 70 cm (h x d x w) 
无需外接计算机，仪器控制、数据采集系统集成化设计
无需外接水冷
无需预校准
90-250V，50-60Hz电源，即插即用

Geometry Theta / Theta立式测角仪

zei大可用角度范围 (取决于检测器)：-3 … 160 ° 2Theta

准确度： ± 0.02° 在整个测量范围内

可获得zei小峰宽： < 0.05°

校准：不需要，工厂对齐

X射线波长：铬/钴/铜Cr / Co / Cu,，标准陶瓷密封管

X-ray发生：30 kV / 10 mA

探测器：闪烁计数器，1维LYNXEYE

仪器类型：Portable desktop

外部尺寸： 61 x 60 x 70 cm (h x d x w)  24.02” x 23.62” x 27.56”

重量： 95 kg

供电： 90 – 250 V

无需外部水冷

内置计算机

Optional additional PC connected via LAN interface

Interfaces 2 x USB and 1 x LAN

参考招标参数：

厦门理工学院绿色建筑材料微结构与性能检测实验室货物类采购项目项目[350200]XC[GK]2018014

水泥专用桌面X射线衍射仪用途：主要用于水泥样品分析测试及研究。

X射线衍射分析（X-ray diffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。 该设备能够实现定量相分析、Rietveld结构精修，结构解析，无标晶粒尺寸大小，晶胞参数等结构方面的分析。

建立水泥数据库，建立分析方法，包括以下： 

①、水泥熟料定量相分析，包括其中C3S、C2S、C3A多晶型含量；游离氧化钙含量等的测定。

②、普通水泥定量相分析包括，二水石膏，半水石膏，无水石膏的含量。

③、矿渣水泥，粉煤灰水泥等定量相分析包括非晶态含量。

④、石灰石，石膏等原料及高炉矿渣，粉煤灰等混合材的定量相分析。 

通过上述成分分析，结合水泥混凝土力学和耐久性等宏观性能测试，可针对性很强地优化水泥混凝土的成分配比，从而改善混凝土的服役性能。 

5.1.2水泥净浆砂浆流变仪用途：水泥混凝土材料是世界上zei大宗的建筑材料，其新拌状态的流变性对于混凝土的施工具有决定性的影响，合适的流变性是施工顺利进行的前提和后续混凝土硬化质量的保障。 

5.2配置要求： 

5.2.1、水泥专用桌面型X射线衍射仪主要参数： 

1、X射线发生器部分

1.1 zei大输出功率：≥300W； 

1.2 zei大电压：≥30kV； 

1.3 zei大电流：≥10mA； 

1.4 电流电压稳定度：优于0.01%（外电压波动10%时)； 

1.5 X射线防护：X射线防护：安全连锁机构、剂量优于国标，辐射量小于1mSv/h。提供2套独立的安全电路，符合CE及DIN54113认证。整机通过辐射安全豁免，无需在环保部门备案。 

2、X 光管部分 

2.1 光管类型：标准尺寸陶瓷X光管； 

2.2 靶材：Cu靶； 

2.3 质保贰年。仪器操作专业培训1-2次 

3、测角仪部分 

3.1 立式q/q测角仪：包括旋转反射样品台：样品测量过程中始终保持水平，并可以可以自转，从而降低样品择优取向的影响； 

3.2 2θ角扫描范围：-3°～ 160°； 

3.3 D2衍射仪随机带一个国际标准样品（刚玉），保证在全谱范围内（20－140°）现场测量标准样品，任何一个衍射峰的测量误差不超过0.02° ； 

3.4 zei小步进：≤0.002°； 

3.5 狭缝系统：包括发散狭缝（DS）、防散射狭缝（SS）及接收狭缝（RS） 

3.6 zei大回转速度：≥1000°/分钟(2θ)； 

3.7 zei大背景噪声：0.4cps。 

4、探测器部分 

4.1 一维探测器； 

4.2 探测器活性面积：>14mm×16mm； 

4.3 微型探测器个数：>160个； 

4.4 线形范围：≥4×107cps； 

4.5 zei大计数：1.3×108 cps； 

4.6 探测效率：≥98% (Cu)； 

4.7 低角度测量，zei低可0.5°起测； 

5、仪器控制和数据采集系统 

5.1控制系统: 不低于：Windows XP操作系统，双核2.6GHz， 2G内存，160G硬盘，16倍DVD/+-RW可擦写光驱，256MB显卡， 

参考招标参数：

中国石油大学（北京）X 射线粉末衍射仪采购项目 项目编号：0873-1801HW4L0317

第三章 采购需求 

第1包  X射线粉末衍射仪 

1. 招标项目的内容及要求 

1.1 基本要求 

多晶物质的晶相结构定性、定量分析，包括无标样定量分析，结构精修及粉末衍射

解结构, 不同温度下实时物相分析。。 

1.2 技术指标 

1.2.1 X 射线光源 

1.2.1.1 zei大输出功率：≥300W  

1.2.1.2 zei大额定管压：30kV 

1.2.1.3 zei大额定管流：10mA 

*1.2.1.4 光管类型：Cu 靶，陶瓷 X 光管，国际标准尺寸，能与其他厂家的光管互换 

1.2.2 测角仪 

1.2.2.1 采用光学编码器测角技术 

*1.2.2.2 工作方式：θ/θ立式测角，样品水平放置，测量过程中样品不倾斜 

*1.2.2.3  2θ转动范围：-3 o ～160 o  

*1.2.2.4 zei小步长：≤ 0.002 o   

1.2.3.5 驱动方式：马达驱动+光学编码器 

*1.2.3 样品台：提供旋转样品台，测样时样品可自转 

1.2.4 X 射线探测器 

1.2.4.1 半导体阵列探测器，子探测器个数：≥160 个 *1.2.4.2 探测器背景：≤0.1 cps 

*1.2.4.3 阵列探测同时适合小角和广角测试，zei小角度：0.3° 

*1.2.5 中低温样品台一套 

1.2.5.1 温度范围：-180 ～ +450℃ 

1.2.5.2 真空系统：与中低温样品台配套，一套 

1.2.5.3 可使用气氛：真空、惰性气氛、定制气氛 

1.2.6  仪器控制和数据采集系统 

1.2.6.1 控制软件包括：仪器控制和数据采集软件 

1.2.6.2 应用软件包括：(1)物相定性分析，含原始数据直接检索功能；(2)无标样定量分析、结构精修软件;(3)全套正版zei新数据库 

1.2.6.3 提供仪器控制、数据采集合数据分析处理计算机系统 

*1.2.7 采用内循环水冷，无需外接水冷机 

1.2.8 仪器满足的相关国际安全标准 

1.2.8.1 质量标准：ISO9001 & EN29002 认证 

1.2.8.2 安全标准：CE 认证 

1.2.8.3 射线防护标准：DIN 54113 认证 

1.2.9 质保和服务 

1.2.9.1 整机免费质保：一年。 

1.2.9.2 提供全寿命周期维护服务。 

参考招标参数：

台式粉末衍射仪采购国际竞争性招标文件 招标编号：0705-184018200814

二、 详细要求

一、 设备名称/数量：台式粉末衍射仪/壹套

二、 设备用途与组成

仪器应当采用当前zei先进的技术，能够精确地对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、基本参数法线形分析分析、晶胞参数计算和固溶体分析、微观及宏观应力分析。仪器包括长寿命陶瓷X光管、X射线发生器、高精密测角仪、阵列探测器、计算机控制系统、数据处理软件、相关应用软件和循环冷却水装置。

三、 工作条件和性能指标

1. 工作条件

1.1  工作电压：220V，50Hz

1.2  温度： 20 ~ 28℃

1.3  相对湿度：＜75%

2. 技术规格

2.1  X射线光源部分

2.1.1  X射线发生器部分

2.1.1.1  zei大输出功率：不小于300W 

2.1.1.2  电流电压稳定度：优于0.005% (外电压波动10%)时

2.1.1.3   X射线防护：射线剂量≤0.5 µSv/h

2.1.2  X光管 

2.1.2.1  光管类型：Cu靶，陶瓷X光管

2.1.2.2  光管尺寸：标准尺寸，能与其他厂家的光管互换

2.1.2.3  光管焦斑：0.4 x 12 mm

2.1.2.4  质保期：4000 小时或2年

2.1.2.5  主机包含光管一支

2.2  测角仪部分

★2.2.1  扫描方式：/ 测角仪，测角仪垂直放置，测试时样品保持水平不倾斜。

2.2.2  测角仪半径：不小于140 mm 

2.2.3 全谱精度：测量标准样品全谱精度优于0.02度

2.3.  半导体阵列探测器

★2.3.1  子探测器个数：≥2880个,探测器有效探测面积 ≥14mm16mm.

2.3.2  动态范围：1×109 cps

★2.3.3  能量分辨率：探测器本身能量分辨率优于380eV(相对于 CuKa谱线能量分辨率优于4.8%)。不接受在入射光路或衍射光路中各种类型过滤K谱线的单色器或滤片，通过探测器本身的能量分辨率可以完全能够分辨Ka,K射线。

2.4 样品台

★2.4.1 六位或六位以上自动进样旋转反射样品台

2.4.2  3组标准样品架

2.4.3  4个单晶硅样品架

2.5  仪器控制和数据采集系统

2.5.1  计算机系统：不低于双核CPU，2G以上内存，1T以上硬盘的主流配置。

2.5.2  仪器控制和数据采集软件

2.6  应用软件：要求提供以下应用分析软件

2.6.1  物相检索软件：含原始数据直接检索功能 

2.6.2  物相定量分析：可编程定量分析软件

2.6.3  固溶体类样品研究分析

2.6.4  线形分析软件：采用基本参数法

2.6.5  （考虑了仪器几何条件的）无标样晶粒大小分析及微观应力分析

2.6.6  无标样定量分析软件

★2.7  循环水冷系统：无需外置冷却系统，采用内循环水冷却与空气冷却。

3. 配置要求

3.1  台式粉末衍射仪主机

3.1.1  自动进样装置

3.1.2  仪器控制系统与数据处理软件

4. 技术文件

4.1  主机和附件装箱清单

4.2  主机出厂验收报告

4.3  仪器使用说明和维护手册

4.4  随机提供完整的产品验收说明书

4.5  软件安装光盘