【技术特点】-- PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101

膜厚测试仪

椭偏仪

应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。  

日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。

根据应用不同，我们特别开发出5款不同的的膜厚测试仪/椭偏仪，每一款产品各具不同的特点。

PHL紧凑型桌面式椭偏仪   SE-101

【技术特点对用户带来的好处】-- PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101

【典型应用举例】-- PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101