主要技术指标
1、分析元素:Na-U,主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、Ast等。
2、分析范围:1ppm-99.99%。
4、同时分析:30种元素同时分析。
5、能量范围:1-50keV。
6、测量时间:1-2 分钟可以完成全部待测元素的含量分析。
7、进口电制冷半导体探测器的分辨率:130ev。
8、 管电压:0-50Kv 管电流: 1~2000 μA。
9、仪器的分析精度:标准偏差≤0.08%。
10、分析误差:优于国家标准要求。
11、辐射剂量:<25μsv/h。
12、环境温度要求:15℃-35℃。
14、工作电源:交流220±10%、50、60Hz。
主要配置
1、探测系统
探测器
类型:电制冷SDD探测器
Be窗厚度:50um
zei佳分辨率:130eV
能量响应范围:1keV-50keV
2、X光管(用于X射线能谱仪)
电压:0~50kV
zei大电流:1.0mA
zei大功率:50W
灯丝电压:2.0V
灯丝电流:1.7A
射线取出角:12°
靶材:Mo
Be窗厚度:0.5mm
3、高压电源
电压范围:0-50kV连续可调,采用数字显示
输入电压:DC+24V±10%
输入电流:4.0A(zei大)
输出电压:0-5KV & 1mA
zei大功率:50W
电压调整率:0.01%(从空载到满载)
电流调整率:0.01%(从空载到满载)
纹波系数:0.1%(P-P值)
8小时稳定性:0.05%
4、真空泵
真空度:真空测试20Pa极限真空2Pa
X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
售后服务
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