【技术特点】-- ELEGRE X射线能谱仪

     仪器简介：
ELEGRE X射线能量色散谱仪（EDS）是北京意力博通技术发展有限公司开发的通用型产品，可以配接多种型号的Si(Li)探测器,适用于SEM和TEM快速元素识别及定量分析。运行在MS WINDOWS操作系统中的ELEGRE中文应用界面，采用快捷按钮和菜单方式操作，简便，快速，易用。

主要特点：
1．多种高电压输出选择,温度报警和探测器自动保护(对于没有温度控制装置的
  探测器此功能不起作用)。
2．高性能模拟脉冲处理器和高速ADC。具有零点稳定、单峰自动增益校准、采
  集速率选择等。
3．多达4096道多道分析器。显示0―40KeV全部能量范围的谱峰，即适用于SEM，
  又适用于TEM。另外，还具有4通道实时元素线、面分布输出。
4．手动、自动元素定性分析软件。手动定性工具为有经验的分析人员精确鉴别
  元素和修改元素值提供方便；自动定性能够在1秒之内快速识别和标记全部
  元素。
5．有标样及无标样定量分析软件。采用高帽滤波方法，zei小二乘峰拟合技术，
  扣除背底，剥离重叠峰并做基底修正（PRZ，ZAF等修正方法）。
6．谱处理软件。
  a. 多种谱显示方式：
     自动谱峰高度显示，自定义谱峰高度显示，对数谱峰高度显示，自动谱
     峰宽度显示，自定义谱峰宽度显示，前景谱和背景谱比较显示。便于谱
     的观察、比较，处理，重叠，卷动，扩大。
  b. 两种感兴趣区设置方式：
     鼠标拖动设置任意宽度的ROI；元素周期表方式自动设置ROI宽度。
7．编辑和输出软件。可直接将采集到的信息和分析结果保存成Word文档，编辑
  报告，驱动喷墨或激光打印机进行定量、定性结果打印以及绘制谱图等。
     

【技术特点对用户带来的好处】-- ELEGRE X射线能谱仪

【典型应用举例】-- ELEGRE X射线能谱仪