技术参数:
用途:应用SHD 3000 高分辨率X-射线衍射仪来确定物质的层厚度、密度、表面和接触面的粗糙程度
3) 应用
纺织业
薄膜分析
应变测量
半导体中的反射、层厚度、组分、密度、表面和接触面的粗糙程度
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经销商
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X射线衍射仪(XRD)
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