技术特点
【技术特点】-- 薄膜残余应力仪
基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理,采用先进控制技术和傻瓜化的操作,使得FST1000薄膜应力测量仪特别适合于要求快速测量常规薄膜残余应力。
【技术特点对用户带来的好处】-- 薄膜残余应力仪
【典型应用举例】-- 薄膜残余应力仪
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