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干涉米氏成像激光粒径测量仪

tel: 400-6699-117 3355

LaVision激光粒度仪、纳米粒度仪, LaVision公司的ParticleMaster IMI基于米氏成像干涉计量技术。

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技术特点

【技术特点】-- 干涉米氏成像激光粒径测量仪

仪器简介:

LaVision公司的ParticleMaster IMI基于米氏成像干涉计量技术. 记录米氏散射强度的空间分 
布。从散焦成像里可以获得粒子粒径尺寸信息. 
信息 
粒子尺寸(d) 
粒子位置 (x, y, z) 
统计表,柱状图 (D21, D32, Dv50) 
速度 (Vx,Vy) 
密度 
 质量流 
应用: 
 透明喷雾 (水,燃料,药物) 
 喷雾云 (蒸发和凝结过程) 
 气泡 (热交换器,工业加工) 
系统构成: 
  ParticleMaster IMI DaVis 软件 
   CCD 相机*, 放大镜头 
  激光器*, 面光学元件* 
*标准PIV 元件 
升级 
  用于流体和气体的 PIV或者平面 LIF



主要特点:

IMI技术的特性 
自动探测和条纹图样分析 (DaVis IMI) 
高达亚像素精度的FFT与先进的评价算法 
用于高精度位置和速度测量的质心算法 
大孔径的放大镜头 
IMI校准工具



【技术特点对用户带来的好处】-- 干涉米氏成像激光粒径测量仪


【典型应用举例】-- 干涉米氏成像激光粒径测量仪



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