技术特点
【技术特点】-- 干涉米氏成像激光粒径测量仪
仪器简介:
LaVision公司的ParticleMaster IMI基于米氏成像干涉计量技术. 记录米氏散射强度的空间分
布。从散焦成像里可以获得粒子粒径尺寸信息.
信息
粒子尺寸(d)
粒子位置 (x, y, z)
统计表,柱状图 (D21, D32, Dv50)
速度 (Vx,Vy)
密度
质量流
应用:
透明喷雾 (水,燃料,药物)
喷雾云 (蒸发和凝结过程)
气泡 (热交换器,工业加工)
系统构成:
ParticleMaster IMI DaVis 软件
CCD 相机*, 放大镜头
激光器*, 面光学元件*
*标准PIV 元件
升级
用于流体和气体的 PIV或者平面 LIF
主要特点:
IMI技术的特性
自动探测和条纹图样分析 (DaVis IMI)
高达亚像素精度的FFT与先进的评价算法
用于高精度位置和速度测量的质心算法
大孔径的放大镜头
IMI校准工具
【技术特点对用户带来的好处】-- 干涉米氏成像激光粒径测量仪
【典型应用举例】-- 干涉米氏成像激光粒径测量仪
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激光粒度仪、纳米粒度仪
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