FEI “Q系列”扫描电子显微镜_参数指标_分析测试百科网

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FEI “Q系列”扫描电子显微镜

tel: 400-6699-117 转 5037

赛默飞扫描电镜SEM, 为满足客户对大样品或块状样品的要求、Q45提供了更大的真空样品室和100mm的样品台行程。另外、Q45加上了环境扫描（ESEM）模式、扩展了SEM的成像和分析功能到加热、含水或放气的样品。

参数指标

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分辨率

加速
电压

探针电流样品台

放大率

试件室尺寸

Q25 SEM

High vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30 kV (BSE)*
8.0 nm at 3 kV (SE)

Low vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30k V (BSE)*
10 nm at 3 kV (SE)

*optional

200 V - 30 kV

up to 2 μA, continuously adjusted

13 to 1000000x

284 mm size left to right

Q45 SEM

High vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30 kV (BSE)*
8.0 nm at 3 kV (SE)

High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*)

Low vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30k V (BSE)*
10 nm at 3 kV (SE)

Extended vacuum mode (ESEM)
3.0 nm at 30 kV (SE)

*optional

厂家资料

地址：广州市海珠区新港东路琶洲商业广场11栋2104室

电话：400-6699-117 转 5037

经销商

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