技术特点
【技术特点】-- M3/M3-XL 三维表面形貌仪
瑞士Heliotis公司多年来致力于开发快速并且功能强大的光学三维表面成像技术,独有的智能像素zl技术让阵列式CMOS探测器上的每一个像素都可以独立处理像素信息,借助白光干涉原理研发出了先进的三维表面形貌仪。为工业用户量身定制的超快测量特点,使得用户可以在保证产线效率的同时实现对产线的在线监控。模块化产品设计也使得该技术具备超高的集成灵活性,能满足用户各种苛刻的应用要求。为科研用户研发的高精度,高重复性和操作简单特点,能让用户轻松实现样品三维表面轮廓的全面表征,并且光学测量不会对样品造成任何损伤。
测量原理:
用低相干白光照射样品和参考平面,被反射两束白光干涉后由阵列式CMOS探测器接收信号,由于探测器直接与信号处理芯片(Smart Pixel技术)连接,所以阵列上每个像素点的信号都在芯片中完成背景补偿,锁相放大和结果计算,这样就实现了样品表面的快速三维测量。
原理示意图
产品特点:
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应用领域:
工业:
食品安全在线检测
包装印刷品三维形貌在线检测
微电子集成电路表面形貌在线检测
印刷电路板品质检测
零件表面划痕损伤检测
微机械精加工质量控制,如钟表,微机械器件等
电子产品零件在线监控,如手机,笔记本电脑,平板等
产业化工艺品质量检测
在线检测设备集成
科研:
MEMS器件
微机械零件表面形貌观察和测量
微光学器件(太赫兹、红外、微波、天线阵列)三维形貌表征
生命科学:生物组织/生物体的 三维形貌测量
侦查取证:表面划痕观察,微小证据三维形貌快速表征
【技术特点对用户带来的好处】-- M3/M3-XL 三维表面形貌仪
【典型应用举例】-- M3/M3-XL 三维表面形貌仪
经销商
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售后服务
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