【技术特点】-- XPR-300型透射偏光熔点仪

【详细说明】

一.仪器特点

XPR-300型透射偏光熔点仪  是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业zui常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。 本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。 偏光显微熔点测定仪XPR-300系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前技术，多年研究开发的结果，在国内享有绝对.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。

二、系统数字性

XPR-300C型偏光熔点仪系统是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、*的计算机成像技术和精密的温控技术*地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察不同温度下的偏光效果图像，并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。

【技术特点对用户带来的好处】-- XPR-300型透射偏光熔点仪

【典型应用举例】-- XPR-300型透射偏光熔点仪