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BK基础型 精微高博基础型陶粒比表面分析仪

tel: 400-6699-117 1000

精微高博孔径分析仪/静态比表面, BET 比表面积, Langmuir比表面积, 外表面积的测定, 样品孔容孔径、孔径分布的测定。

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精微高博基础型陶粒比表面分析仪

BET 比表面积, Langmuir比表面积, 外表面积的测定, 样品孔容孔径、孔径分布的测定。

测试范围

0.0005 m2/g – 无上限(比表面积);

0.35 nm-500 nm (介孔和微孔分析);

0.0001 cm3/g- 无上限(孔体积);

测试精度

在±1.0%范围内 (比表面积);

≤ 0.01nm (超微孔、常见的孔尺寸);

≤ 0.04%(真密度);

在±1.5%范围内(外表面积)。

压力测试

样品分析站采用进口的压电薄膜传感器,1000 Torr, 精度≤ 0.15%(读出的值)。

P0测试

每个样品管均有一个独立的P0管,其由一个与分析站完全分离的独立压力传感器控制。实时检测吸附物的饱和蒸汽压力, 并实时参与计算。

真空系统

前置机械泵+二级吸附泵(极限真空是6.7*10-2Pa)。

实验控制流程

平衡压力可实现自动控制,微孔测试时,吸附分为四个投气阶段,脱附分为两个阶段。


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