【技术特点】-- ORTEC G 系列射线检测仪

实验室分析设备HPGe高纯锗γ能谱测量系统美国ORTEC

半导体（高纯锗和Si（Li））探测器拥有精锐的能量分辨率，由其组成的γ和X射线能谱测量技术与产品，不仅是核结构、分子物理、原子碰撞等核物理与核反应研究的重要工具，而且在核电、环境、检验检疫、生物医学、天体物理与化学、地质、法学、考古学、冶金和材料科学等诸多科学与社会领域得到了越来越广泛的应用。
四十多年来，ORTEC 探测器种类不断丰富、性能不断提高，在探测效率上，能提供相对效率200%的P型同轴探测器、175%效率的P型优化（“宽能”）同轴探测器和100%效率的N型探测器。
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一、 探测器机理与各指标的简要意义
放射性核素产生的γ光子和X射线，其能量一般在keV至MeV范围。由于其不带电荷，通过物质时不能直接使物质产生电离，不能直接被探测到，因此γ和X射线的探测主要依赖于其通过物质时与物质原子相互作用，并将全部或部分光子能量传递给吸收物质中的一个电子。这种相互作用表现出光子的突变性和多样性，在吸收物质中主要产生三种不同类型的相互作用：光电效应、康普顿效应或电子对效应，而产生的次级电子（光电子）再引起物质的电离和激发，形成电脉冲流，电脉冲的幅度正比于γ和X射线的能量。三种效应中，光电效应中γ光子把全部能量传递给光电子而产生全能峰，是谱仪系统中用于定性定量分析的主要信号；而康普顿效应和电子对效应则会产生干扰，应尽可能予以抑制。
在谱仪中，探测器（包括晶体、高压和前置放大器）实际上是一个光电转换器，将光子的能量转变成幅度与其成正比的电脉冲。然后通过谱仪放大器将该脉冲成形并线性放大，再送入模数变换器即ADC中将输入信号根据其脉冲幅度转变成一组数字信号，并将该数字信号送入多道计算机数据获取系统，由相关软件形成谱图并进行分析。
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以下简要阐明所涉及的相关物理概念：

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二、 ORTEC所有同轴探测器全面严格保证能量分辨率、峰康比和峰形指标。
1、ORTEC HPGe与Si（Li）探测器的分类与特点：
GEM系列: P型同轴HPGe探测器 
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GEM Profile系列: P型优化同轴HPGe探测器

同一型号的探测器采用相同的晶体结构和尺寸，从而保证了相当一致的效率曲线；

GEM-M系列：专门设计适用于马林杯状样品的测量，探测器端窗直径与晶体有效厚度一致；

GEM-F系列：采用扁平结构晶体（直径>长度），对于滤纸、滤膜等薄层样品的测量能获得最理想的实际探测效率；

GEM-FX系列：有着-F系列类似的晶体结构，但采用超薄的接触极和碳纤维端窗，能量响应范围10keV至10MeV；还可作为超铀元素测量的理想选择；提供15%，20%和50%三种探测效率选择；

GEM-MX系列：结合-M与-FX工艺，能量响应范围10keV-10MeV，尤其适合于马林杯状样品；提供38%, 66%，115%和175%四种效率选择；

GEM-FX与GEM-MX在整个10keV至10MeV（“宽能”）的能量范围内都有十分优异的能量分辨率，从指标与实用意义上实现了传统P型与N型探测器的“优势组合”。

Actinide-85: 肺部计数HPGe探测器：
采用GEM-FX8530探测器工艺，用于肺部计数探测器；采用超低本底冷指材料和整体碳纤维封装结构。 
SLP系列: X-射线Si(Li)探测器： 
用于X-射线能谱测量；能量响应范围1keV至30keV；有效面积12.5至200mm2。 
对于700keV以下的能量峰，120cc体积的井式探测器已能很好的满足探测效率的要求，增大探测器体积并没有太多的实际意义
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 2、探测器的附属选项及其意义

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【技术特点对用户带来的好处】-- ORTEC G 系列射线检测仪

【典型应用举例】-- ORTEC G 系列射线检测仪