Beta能谱测量的难处在于常温状态下由硅探测器很难获得良好的分辨率。ORTEC提供以下两种解决方案:1,Beta-X Si(Li)一体化探测器(包含探头,冷指前放);2,A和L系列可制冷的厚硅探测器。
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ORTEC辐射仪/射线检测仪, ORTEC带电粒子硅探测器主要有金硅面垒和离子注入两种工艺,其耗尽层厚度从10微米到几个毫米厚不等。而根据其几何形状与是否全耗尽又有诸多类型。选择合适的带电粒子探测器,除应用本身外,在探测器上应从耗尽层厚度、结电容、漏电流、电子噪声、能量分辨率等性能指标上综合权衡。
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Beta能谱测量的难处在于常温状态下由硅探测器很难获得良好的分辨率。ORTEC提供以下两种解决方案:1,Beta-X Si(Li)一体化探测器(包含探头,冷指前放);2,A和L系列可制冷的厚硅探测器。
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