ORTEC辐射仪/射线检测仪, ORTEC带电粒子硅探测器主要有金硅面垒和离子注入两种工艺，其耗尽层厚度从10微米到几个毫米厚不等。而根据其几何形状与是否全耗尽又有诸多类型。选择合适的带电粒子探测器，除应用本身外，在探测器上应从耗尽层厚度、结电容、漏电流、电子噪声、能量分辨率等性能指标上综合权衡。