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聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d

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技术特点

【技术特点】-- 聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d


日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在全球销售量超过300台,广获全球科研及工业用户的赞誉,成为热电材料领域“标杆型”测试设备。2019年,在此前的成功基础上,ADVANCE RIKO公司推出了专门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。

与之前ZEM系列产品(ZEM-3/ZEM-5)不同,新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品最薄为10μm。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。



    

 

 


【技术特点对用户带来的好处】-- 聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d


【典型应用举例】-- 聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d



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