技术特点
【技术特点】-- Surfix basic S统计型测厚仪 膜厚仪
【详细说明】
Surfix basic S可换探头统计型测厚仪膜厚仪
特点:
1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层
2.分辨率0.1μm
3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
4.探头需另选购
Surfix basic S可换探头统计型测厚仪膜厚仪
特点:
1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层
2.分辨率0.1μm
3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
4.探头需另选购
Surfix basic S可换探头统计型测厚仪膜厚仪
特点:
1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层
2.分辨率0.1μm
3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
4.探头需另选购
【技术特点对用户带来的好处】-- Surfix basic S统计型测厚仪 膜厚仪
【典型应用举例】-- Surfix basic S统计型测厚仪 膜厚仪
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