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X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
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吉恩纳X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), TX2000 原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是“传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角。由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X光束几乎可以全部被反射,照射在样品表面后,可以zei大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生,同时减小了载体的背景和噪声”。TX2000 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上,创新光学编码器的步进电机,保证精确角度测量,软件控制Mo/W靶可自由切换,采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。
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