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久滨仪器热老化试验箱, 该试验箱使用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二级管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业 电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化 试验。
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