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电子智能门锁老化测试架

tel: 400-6699-117 1000

德尔塔疲劳试验机, 本测试架适用于电子智能锁PCBA主板、成品指纹锁老化测试作带载老化测试。老化架负载和老化架控制器均采用MCU设计,整机操作简单快捷,性能稳定可靠,是老化电子智能门锁的理想选择。

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三、主要规格参数:

型号

电压范围

电流范围

功率

老化总数量

层数

每层老化数量

负载类型

GS-FETR140C

DC:0~5V

DC:0.1~3A

30W

140个

7

20个

CC/CV

GS-FETR140D

DC:0~10V

DC:0.1~5A

30W

140个

7

20个

CC/CV

GS-FETR196A

DC:0~5V

DC:0.1~3A

75W

196个

7

28个

CC/CV

GS-FETR140B

DC:0~10V

DC:0.1~5A

75W

196个

7

28个

CC/CV

GS-FETR112A

DC:0~5V

DC:0.1~3A

150W

112个

7

16个

CC/CV

GS-FETR112B

DC:0~10V

DC:0.1~5A

150W

112个

7

16个

CC/CV

GS-FETR70C

DC:0~5V

DC:0.1~3A

300W

70个

7

10个

CC/CV

GS-FETR70D

DC:0~10V

DC:0.1~5A

300W

70个

7

10个

CC/CV

 

 



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