产品型号：KDK-LT-1

品牌：恒奥德

产品产地：北京

产品类型：国产

原制造商：恒奥德

状态：在售

厂商指导价格：未提供

上市时间： 2013-02-12

英文名称： KDK-LT-1 high frequency photoconductive minority carrier lifetime tester

优点：用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。