赛默飞ELEMENT GD Plus辉光放电质谱仪

了解如何借助 Thermo Scientific™ ELEMENT GD™ PLUS GD-MS 为固体中高级高纯度材料的直接分析定义新的标准。通过zei大限度减少校准和样品制备操作，可提高样品处理量并达到超低检测限，从而使 GD-MS 适合整块金属分析和深度剖析应用。 

陶瓷和其他几种非导电粉末使用二次电极法进行分析，从而提供相同水平的灵敏度和数据质量。这使得 GD-MS 成为痕量金属分析的可靠标准方法。

描述

存在于固体样品中的几乎所有元素都可进行常规检测和定量：许多元素的含量低于十亿分率 (ppb) 水平。

µs 脉冲式高流速辉光放电池

采用脉冲放电模式的高灵敏度离子源

广泛可调的溅射速率适用于快速进行整体分析和高级深度剖析应用

使用二级电极进行氧化铝粉末分析

双聚焦质谱仪

高离子传输率和低背景使得信噪比可达亚 ppb 级检测限

高质量分辨率可提供zei高水平的选择性和准确度：是无可争议的分析结果的先决条件

十二数量级的自动检测系统

在一次分析中测定基体和超痕量元素，全自动检测器涵盖 12 数量级动态线性范围

直接定量测定基体元素 IBR（离子束比率）

高效率和简单易用的软件包

所有参数均由计算机控制

全自动调谐、分析和数据评估

自动 LIMS 连接性

远程控制和诊断

Windows 7

样品周转时间通常少于 10 分钟

能够在一次分析中测定基体元素到超痕量元素

深度剖析涵盖数百微米到一纳米的层厚度

zei小化基体效应，便于进行直接定量

推荐用途： 

航空航天：镍基高温合金、复合材料、涂层和扩散层的深度剖析

微电子学：铜、铝粉、溅射靶材

可再生能源：硅块、晶片、太阳能电池

医疗/制药/食品：不锈钢、合金

直接分析高纯度固体材料的zei佳工具

使用超灵敏且准确的 Thermo Scientific™ ELEMENT™ GD PLUS GD-MS 确保您的高纯度材料符合规格。GD-MS 是直接分析金属、半导体和陶瓷粉（例如 Al2O3 或 SiC）的zei佳工具。拥有出色的半定量功能，深度分析的应用所涉及的厚度从纳米到 100µm 不等。

特色辉光放电质谱仪

ELEMENT GD PLUS GD 质谱仪

了解如何借助 ELEMENT GD PLUS GD-MS 为固体中高级高纯度材料的直接分析定义新的标准。GD-MS 以zei少的校准和样品制备实现高样品通量和超低检出限，使得整个金属、陶瓷粉末和深度分析的应用成为 GD-MS 的主要应用领域。 非导体粉末可采用二次电极进行分析，并具备相同水平的灵敏度和数据质量。这使得 GD-MS 成为痕量金属分析的可靠标准方法。

技术特点：

微秒级脉冲、高流速、大功率

相较静态 GD，该独特技术具有出色的灵敏度和较低的多原子干扰，稳定性绝佳、准确度极高并能缩短分析时间，在金属和合金检测方面的准确度为 ±30%（无需校准）。

双聚焦质谱仪

高离子传输率结合低背景噪声， 铸就了无可比拟的信噪比和低至亚 ppb 级的检出限。高质量分辨率实现zei佳选择性和准确度。

十二数量级的自动检测系统

>拥有 12 个数量级线性动态范围的全自动检测器可在一次扫描中同时测定基体和超痕量元素。

高效易用的先进软件包

所有参数均由计算机控制，可实现全自动分析、数据评估以及与自动数据传输的 LIMS 连接性。

辉光放电离子源关键特性：

设计独特，具有zei高的准确度和广泛可调的溅射速率，非常适合整体分析和深度分析的应用

灵敏度高，分析时间短

样品间切换简单快速

无需液氮冷却即可具有较低的多原子干扰

灵活的样品池，适用于平板样品、压片粉末和针状样品

插拔式锥形阳极部件，便于快速更换，以免有样品残留

ELEMENT GD集中了辉光放电和高分辨质谱的优势，在以下方面有杰出表现：

·         样品测试通量高：ELEMENT GD离子源和样品夹的设计使可缩短换样和分析时间，显著提高生产率；

·         检测器线性范围宽：检测器线性范围达12个数量级，可一次扫描同时检测基体和痕量元素组成；

·         具有固定宽度的低、中、高分辨率狭缝，采用高分辨率可直接分析有质谱干扰的同位素。