分析含量范围:1ppm-100%
元素分析范围:F(9) ~ Am(95)
能量分辨率:小于135eV@5.9keV/1,000cps
重复性:0.1%
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X荧光光谱/XRF(波长色散型)
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PP SystemsX荧光光谱/XRF(波长色散型), 用于在从研发到流程控制的领域中进行元素分析。它易于操作、可靠且高度灵活,是多种行业和应用的理想选择。激发和探测技术的zei新进步为该仪器提供了技术支持,从而帮助它提供了卓越的分析性能。
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