Sphere-3000是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/绝对反射率，适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量，还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
★ 智能化软件操作
可自定义测量方式和角度，实时显示测量样品指定波长位置的透/反射 率数据，高效地进行 批量样品检测及谱图对比分析。
★ 谱图管理
可同时记录多达20个样品谱图，批量保存测量结果，zei大程度地方便了谱图的管理和分析。
★ 自定义测量方案
用户可自定义测量方案，直接显示结果OK或NG，使检测更快速，结果更准确。
★ CIE颜色测量功能
可以计算样品各种CIE颜色参数， x，y，L,a,b,饱和度，主波长等。
★ 谱图数据处理功能
备有丰富的光学元件数据库，据对比分析结果，用户可自行对数据库进行添加、修改和删除。
★ 自定义打印格式
用户可自行定义打印报表的格式，进行分页打印，也可单页对比打印。
技术参数
型号 | Sphere-3000（I型） | Sphere-3000（II型） | Sphere-3000（III型） | |
|---|---|---|---|---|
检测范围 | 380~1000nm | 380~1100nm | 360~1100nm | |
波长分辨率 | 1nm | 1nm | 1nm | |
相对检测误差 | ﹤1% | ﹤0.75% | ﹤0.5% | |
测定方法 | 与标准物比较测定 | |||
被测物再现性 | ±0.1%以下（400nm~420nm）±0.05%以下(2σ) (410nm~700nm) | ±0.1%以下 400nm~420nm) ±0.05%以下(420nm~800nm) | ±0.1%以下 (400nm~420nm) ±0.05%以下 (420nm~800nm)
| |
单次测量时间 | ﹤1s | |||
精度 | 0.3nm | |||
被测物N.A. | 0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) | |||
被测物尺寸 | 直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时) 厚度>0.5mm(使用20×对物镜时) | |||
被测物 测定范围 | 约φ60μm(使用10×对物镜时) 约φ30μm(使用20×对物镜时) | |||
设备重量 | 约15kg（光源内置） | |||
设备尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | |||
使用环境 | 水平且无振动的场所 温度：23±5℃； 湿度：60％以下、无结露； | |||
操作系统 | Windows XP, Windows Vista，Win7 | |||
软件 | 分光反射率、物体颜色、单层膜厚（有干涉条纹）和镀膜（有干涉条纹）折射率测定 | |||
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