SDI / MFI 膜污染指数测试仪

     SDI /MFI 淤泥密度指数/修正膜污染指数测定仪被广泛的应用于评估在RO和NF纯化系统中水质中胶体和颗粒物污染的程度，更重要的，这项测试已成为预处理系统的效果或者质量的评估指标。然而虽然SDI被广泛使用，但要得到重复性和准确性好的SDI确实一件困难的事，基于诸多的关于SDI测试的讨论，主要由以下一些原因导致：
1、采用的微滤膜性能：孔径分布，孔隙率，疏水性，和表面粗燥度
2、变化的测试条件：进液温度和压力（1度的变化会有0.13的SDI的变化）
3、手工操作的因素：气泡的存在，滤膜夹具或者操作者疏忽
        以可靠的方式测量和对比SDI的解决方案，就是排除和校正上述原因，基于多年优化SDI测试的工作实践，Convergence公司的 SDI测试仪改善了SDI测试的重复性和准确性，符合ASTM  D4189 -07标准,  100%的全自动化保证无人为因素的影响，仪器可自检执行SDI 5、10或者15测试，每次试验开始会自动清洗确保仪器只有测试液体和无气泡存在。SDI/MFI测定仪提供一次性的滤盒，包括满足ASTM 标准的MF 0.45um膜，选自8种测试过的品牌。

        SDI计算公式:  SDI=100P30/ Tt =100（1-T1/ T2）/ Tt  . 其中100(1-T1/T2)是堵塞指数PI. SDI的测试从原理上来说是基于膜的初期堵塞污染机理, 膜的堵塞污染在实践中并不是主导性的污染模式,在堵塞污染阶段, 时间T和T/V呈线性关系, SDI只能在一定程度上反映大于0.45um的颗粒堵塞快慢程度,或者说通量的衰减速度(在过滤初期), 所以SDI用于评估UF,NF,RO原水的潜在污染程度是不完善的, 至少是片面的.这一点在多年的实践中已经被广大研究工作者确认.

      因为 往往一段时间(几分钟或者十几分钟)后由膜表面形成的沉积层和凝胶层(滤饼层)才是主导的污染模式.在滤饼过滤阶段, 累计滤液V和t/V呈线性关系, 该线性的斜率就是MFI 修正污染指数，计算公式:  MFI= t /V2

 MFI 修正污染指数是SDI的改进表征方法，测试过程相同，计算方法不同，是作出过滤水样体积V（L）的时间t 的t/V和V的关系曲线图，计算该曲线在线性部分（滤饼过滤阶段）的斜率即MFI值， Convergence 公司MFI测试仪采用专业设计的过滤夹具和膜保证均匀的流场分布和滤饼形成。膜的阻抗，温度，压力都会被测量并用于MFI计算的校准.

该方法克服了SDI表征水质的一些不足之处，能够更好的反映进水水质，如MFI和胶体和悬浮颗粒物含量线性相关，基于滤饼过滤原理，可以有效的进行膜阻,温度和压力校正, 能够更好的预测反渗透膜通量下降一定量所需要的时间，更好的指导预处理工艺。