P-7 台式探针式轮廓仪
tel: 400-6699-117 转 1000科磊半导体轮廓仪/粗糙度仪, P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。
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产品型号: P-7
品牌:科磊半导体
产品产地:美国
产品类型:进口
原制造商:科磊半导体
状态:在售
厂商指导价格:未提供
上市时间: 2013-05-15
英文名称: P-7
优点:P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。
参考成交价格: 100~200万元[人民币]
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