性能指标
CCD阵列 | 220nm~1000nm,珀尔帖制冷,暗视野和荧光显微下低信号检测 |
光电二极管阵列 | 195nm~2200nm,光照条件好的低噪音测量 |
光电倍增管模块 | 直接安装或光纤耦合,可增加珀尔帖制冷或光子计数器 |
模拟或数字影像系统 | 二维定量和三维观察整合图像分析软件 |
深UV-NIR光照激发单元 | 具有高效能的双氘灯和卤钨灯复合光源 |
SpectraVision软件功能
基本 | 具有系统设置、数据获取和输出、可视化等功能 |
控制 | 具有专业的工作流,能整合显微镜和外围设备 |
直方图 | 具有直方图,偏振动力学和测量zei大zei小强度分析功能 |
色度分析 | 色彩分析,符合CIELad国际标准 |
层厚 | 具有层厚分析算法,用于透明层层厚和涂层评估 |
成像 | 提供显微测密计算工具和预报功能 |
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紫外可见分光光度计
售后服务
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