【技术特点】-- 吉时利参数测试系统

S530参数测试系统专为必须处理多种设备和技术的生产和实验室环境而设计，提供行业领先的测试计划灵活性，自动化，探针台集成和测试数据管理功能。吉时利（Keithley）拥有30多年的专业知识，可以为世界各地的客户设计这些测试解决方案，提供各种标准和定制参数测试仪。

S535多站点晶圆验收测试系统是一种高功率，高分辨率的晶圆级解决方案，用于在整个晶圆厂工作流程中的应用中测试模拟，电源，混合信号和离散设备。与传统的异步并行测试方案同时在一个站点上测试多个设备不同，S535的多并行测试方法可同时在多个站点上测试多个设备。这样可以将探测器索引时间至少减少2倍，从而提高了晶圆厂的生产率并降低了测试成本。

540参数测试系统是一款全自动的48针参数测试系统，用于功率半导体器件和结构高达3kV的晶圆级测试。完全集成的S540经过优化，可与包括碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）在内的最新复合功率半导体材料一起使用，可以在单个探头触地中执行所有高压，低压和电容测试。

S500集成测试系统是高度可配置的基于仪器的系统，用于在设备，晶圆或暗盒级进行半导体表征。S500集成测试系统建立在我们久经考验的仪器之上，可提供创新的测量功能和系统灵活性，可根据您的需求进行扩展。独特的测量功能，结合功能强大且灵活的自动表征套件（ACS）软件，可提供市场上其他同类系统无法提供的广泛应用和功能。 

【技术特点对用户带来的好处】-- 吉时利参数测试系统

【典型应用举例】-- 吉时利参数测试系统