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LT-SPM 低温扫描探针显微镜
上海伯东代理英国 NanoMagnetics LT-SPM 低温扫描探针显微镜, 扫描探针显微镜在低温下的应用比在环境或高温下的应用更为广泛.
LT-SPM 低温扫描探针显微镜优势:
减少热漂移: 低温作业为消除与热漂有关的影响提供了最直接和可靠的途径
低噪音水平: 将温度从300k降低到10k, 可以使热频率噪声降低5倍以上, 例如, 可以在石墨等低波纹表面以原子分辨率获得三维力场
提高了和样品的稳定性
减少压电滞后/蠕变
许多物理效应于低温

LT-SPM 低温扫描探针显微镜系统参数:
Imaging Modes         : SHPM, STM, AFM, MFM, EFM, SNOM (in development)
Scan Size  Head        :  Large Area Scan Head       Standart Scan Head        Small Area Scan
                                      150 x 150 μm @ 300 K        52 x 52 μm @ 300K        8 x 8 μm @ 300 K
                                      36 x 36 μm @ 77 K              14 x 14 μm @ 77 K         3.5 x 3.5 μm @ 77 K
                                      18 x 18 μm @ 4.2 K              6 x 6 μm @ 4.2 K            1.5 x 1.5 μm @ 4.2 K
Z Range                     : 7.0 μm @ 300 K                  4.8 μm @ 300 K               2.4 μm @ 300 K
                                     1.8 μm @ 77 K                      1.2 μm @ 77 K                 0.6 μm @77K
                                      0.8 μm @ 4.2 K                     0.5 μm @ 4.2 K               0.25 μm @ 4.2K
Head Dimensions     : 23.6 mm OD x 125 mm  or  25.4 mm OD x 100 mm
Sample Approach     : Stick-slip type; 10 mm Z, ?3 mm XY range with 50 - 800 nm step size
Sample Size              : 15 x 15 x 5 mm maximum
Temperature Range : 1.0 K - 300 K (Limited by the cryogenic equipment)
Magnetic Field         : >16 T

原子力显微镜 (Atomic Force Microscope, AFM), 隶属于扫描探针显微镜 (Scanning Probe Microscope, SPM), 是一种具有原子级别高分辨, 高解像能力的科研仪器, 原子力显微镜可在真空, 气体或液体环境中操作, 适用于各种材料的表面检测, 形貌测量, 粗糙度分析及生医样品检测等.
与 STM 对比 AFM 可以观测非导电样品, 应用范围更广