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理学3D CT与Nano 3DX

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理学X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), 理学3D CT与Nano 3DX

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案例:


2. 3D CT  材料分析
用于材料科学的 X 射线断层摄影,可用于辨别微尺度结构、特性和成分。
与其他技术相比,该技术的巨大优势在于:不必进行样品制备,即可对完整样品进行检测分析。
非破坏性二维 (2D)、三维 (3D) 和四维 (4D) 成像功能,检测范围小到几微米,大到几厘米

 

应用领域:
1.  储能设备    2. 微观结构 4D 改变         3.  空隙、孔隙率、缺陷      4.  塑料和聚合材料
5. 内部结构、孔隙特征      6.  结构材料     7. 结构属性关系     8. 金属和合金   9. 空隙、断裂、缺陷和变形
10. 考古科学   11. 工业材料   12. 制药、食品科学、半导体     13. 电子元件、航空、医疗设备    14. 3D 打印
15. 质量控制、4D 老化研究   16. 自然材料    17. 钻孔、矿物标本     18.  电子元件  19.失效和结构分析
20.法医材料科学     

 



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